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超快时间分辨荧光成像系统
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设备简介
  • 主要功能：材料的微区稳态荧光光谱、瞬态荧光光谱以及变温光学性质测量。
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  • 主要技术指标：1.可测量最短荧光寿命：2ps； 2.光谱范围：200nm-900nm； 3.温度范围：80k-500k连续可调。 4.光谱分辨率：≤ 0.08 nm@1200l/mm光栅＆PMD。
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  • 主要学科领域：材料科学,化学工程,化学
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  • 服务内容：主要用于材料显微及变温环境下的荧光寿命测试（可测维纳结构的稳态瞬态光谱）
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  • 用户须知：请提前预约，根据送样测试要求，请具体联系
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