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S4800场发射扫描电镜冷场
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设备简介
  • S4800场发射扫描电镜冷场(SEM2)
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  • 主要功能：观察材料表面的微细形貌、断口及内部组织，并对材料表面微区成分进行定性和定量分析。
  • 主要技术指标：l、次电子分辨率： 1.0nm (15kV)； 2.0n（1kV)； 1.4nm (1kV减速模式) 2、背散射电子分辨率：3.0 nm (15 kV) 3、加速电压：0.5～30kV 4、电子枪：冷场发射电子源 5、放大倍率：30～800,000倍 6、X射线能谱仪的元素分
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  • 主要学科领域：材料科学
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  • 服务内容：分析测试
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  • 用户须知：
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