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低温探针台(半导体参数分析仪)
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设备简介
  • 主要功能：半导体芯片、微波器件等提供一个光、电参数测试、分析的平台
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  • 主要技术指标：10-400K，0-5000Oe,0-360deg
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  • 主要学科领域：物理学
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  • 服务内容：多物理场下的输运测试
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  • 用户须知：按小时收费
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