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变温X射线衍射仪
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设备简介
  • 主要功能:可以测定样品在中低温和高温范围的晶体结构特征。包括不同温区样品的晶体结构,物相定性、定量分析,晶格常数测定,晶粒大小测定与晶胞畸变及结晶度分析,物相丰度定量分析,纳米样品粒径、空孔尺寸分析等。特别适合用于各种材料在不同温度时物相变化的定性、定量分析研究,样品材料可以包括无机材料、有机材料、复合材料、纳米材料等粉末、块状、薄膜、微区微量样品。
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  • 主要技术指标:X射线发生器和机柜: 最大输出功率:3kW 最大管压: 60kV,1mV/步, 机柜同步数字显示 最大管压: 60mA,1mA/步,机柜同步数字显示 电源稳定度:0.005% ( 外 电 源 变 化10%) X射线防护标准:?1?Sievert/h (10cm距离) 金属陶瓷X光 管: 最大功率:2.2kW (Cu靶),其他靶材可选 最大管压:60kV 最大管流:55mA 焦斑:12x0.4mm长 细 焦 斑及 点 焦 斑 保证寿命:二年或4000小时 点线焦斑可自由切换无需校准,更换光管无需校准 测角仪: 角度重现性:+/- 0.0001 度 最小步长: 0.0001 度,可以停止在任何规定角度 编码方式:双光学编码 测角仪半径:240mm 光学编码: 直接光学定位(DOPS2) 马达驱动:直流马达 整机重现性:0.001? PIXcel3D 全能2维矩阵探测器 计数矩阵: 256x256 pixcel 像素大小: 55?mx55?m 99%线性范围:1x1010cps 静态扫描范围:6.5? 最小背景:1cps 工作方式: 0维(点探测器),1维(阵列探测器模式),2维(面探测器模式),3维(CT探测器模式) 保证分辨率:0.028? 2? (NIST660a样品)
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  • 主要学科领域:材料科学,化学工程
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  • 服务内容:可在材料、化工、高分子科学、物理、化学、生物、制药等学科。
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  • 用户须知:
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