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变温X射线衍射仪
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设备简介
  • 主要功能:通过对材料进行X射线衍射,得到其衍射图谱,可获得材料的成分、内部原子或分子的结构或形态等信息,可用于物相鉴定,粒径表征,点阵参数、结晶度、残余应力、晶体取向及织构的测定,具有不损伤样品、无污染、快捷、高精度、可获取信息量大等优点;广泛应用于化学、材料、医药和光电子等领域
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  • 主要技术指标:1、高功率光管:≥3KW 2、2θ范围:-10°~168° 3、高检测精度:±0.01° 4、旋转样品台 5、温度范围:室温-1600℃
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  • 主要学科领域:材料科学
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  • 服务内容:1、粉末样品、薄膜样品、块体样品的物相鉴定、定量与结构分析 2、薄膜样品的厚度分析 3、块体与薄膜的表面残余应力分析 4、粉末样品的变温结构分析
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  • 用户须知:1.粉末样至少50mg(如样品密度偏大,请适量增加),粒度<200目,手搓无明显颗粒感,越细越好; 2.块体样品需表面平整,尺寸在3*3*1cm以内; 3.块体/薄膜样品请注明测试面; 4.较薄的薄膜/涂层样品(厚度<100nm)请慎重选择广角XRD; 5.微区XRD样品需标记待测点,束斑最小为0.01mm,样品高度应不超过8mm,待测面应平整光滑。
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