纳米电子材料综合测试系统-光衍未来

纳米电子材料综合测试系统

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设备简介

主要功能：信号发生模组（频率范围250KHZ-40GHZ;频率分辨率0.001hz；电平分辨率0.01db）信号分析模组频率范围3HZ-43GHZ;频率精度1*10e-8;分析带宽1Hz-8MHz;灵敏度-150db;幅度精度0.24db）
主要技术指标：阻抗测试模组（频段为10MHz-20GHz;动态范围为136db;频率分辨率1HZ）；精度1ppm;功率分辨率0.01db）脉冲测试座（频段2-20GHZ）脉冲发生模组（速率1mHZ-165MHZ;脉宽范围3.03ns-999.5s;幅度范围100mV-20mV;转换时间2ns-200ms）; 功率放大模组（频率范围1-26.5GHZ;噪声系数10；增益30db）信号发生模组（频率范围250KHZ-40GHZ;频率分辨率0.001hz；电平分辨率0.01db）信号分析模组频率范围3HZ-43GHZ;频率精度1*10e-8;分析带宽1Hz-8MHz;灵敏度-150db;幅度精度0.24db）
主要学科领域：电子与通信技术
服务内容：
用户须知：