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针尖增强半导体材料光谱测试
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设备简介
  • 针尖增强半导体材料光谱测试系统
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  • 主要功能:材料拉曼、荧光微区分析、掺杂纳米颗粒光学特性分析
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  • 主要技术指标:测量模式:(1)接触模式成像;(2)轻敲模式成像;((5)近场扫描功能 分辨率:(1)横向:0.2nm,垂直:0.1nm(以云母晶体标定 光谱重复性:≦± 0.05 nm(0.2cm-1) 光谱分辨率:可见光全波段分辨率高于0.03nm
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  • 主要学科领域:材料科学,测绘科学技术,物理学,自然科学相关工程与技术
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  • 服务内容:各类半导体材料、硅基光电子材料及器件的光电性能研究。共享学科:能利用该设备的学科是材料物理与化学学科的半导体材料研究方向;并可为光电子相关科研学科使用
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