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针尖增强半导体材料光谱测试
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设备简介
  • 针尖增强半导体材料光谱测试系统
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  • 主要功能：材料拉曼、荧光微区分析、掺杂纳米颗粒光学特性分析
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  • 主要技术指标：测量模式：（1）接触模式成像；（2）轻敲模式成像；（（5）近场扫描功能 分辨率：（1）横向：0.2nm，垂直：0.1nm（以云母晶体标定 光谱重复性：≦± 0.05 nm（0.2cm-1） 光谱分辨率：可见光全波段分辨率高于0.03nm
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  • 主要学科领域：材料科学,测绘科学技术,物理学,自然科学相关工程与技术
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  • 服务内容：各类半导体材料、硅基光电子材料及器件的光电性能研究。共享学科：能利用该设备的学科是材料物理与化学学科的半导体材料研究方向；并可为光电子相关科研学科使用
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