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微区X射线荧光成像光谱仪
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设备简介
  • 主要功能：青瓷成分检测
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  • 主要技术指标：硅漂移探测器（SDD），30mm2，能量分辨率< 145eV@300 K cps，单点积分时间≤1ms
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  • 主要学科领域：材料科学
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  • 服务内容：青瓷成分检测
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  • 用户须知：
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