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微区X射线荧光成像光谱仪
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设备简介
  • 主要功能:青瓷成分检测
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  • 主要技术指标:硅漂移探测器(SDD),30mm2,能量分辨率< 145eV@300 K cps,单点积分时间≤1ms
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  • 主要学科领域:材料科学
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  • 服务内容:青瓷成分检测
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  • 用户须知:
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