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霍尔效应测试系统（含分子泵组)
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设备简介
  • 主要功能：用于测定半导体、导体薄膜的各种电学性质，如：电阻、电导率、迁移率、载流子类型、霍尔电压等。
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  • 主要技术指标：室温下最大磁场: 1.67T@DC模式；1. 18T@AC模式高低温选件最大磁场: 0.89T@DC模式；主机电阻测量范围: 0.5mΩ~10MΩ@DC模式； 电流范围：±1pA ~±100mA
  • 主要学科领域：材料科学
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  • 服务内容：用于测定半导体、导体薄膜的各种电学性质，如：电阻、电导率、迁移率、载流子类型、霍尔电压等。
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  • 用户须知：
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