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高分辨薄膜X射线衍射仪
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设备简介
  • 主要功能：用于测量薄膜样品微结构
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  • 主要技术指标：1.输出功率：≥3kw；电压：60kV；电流：60mA；2 密封式X射线光管（Cu靶），管 压：≥40kV；管流：≥35mA；3 单色器技术要求：单色性：Cu Kα1，最高分辨率 ≤12秒；4 测角仪：θ，2θ scan，对称、非对称和面内掠入射皆可实现；5.配置 五轴尤拉环；6.RxRy样品台通过移动Rx和Ry轴可以进行样品表面和晶面的晶轴调整 ；7. 具备专门硬件IN PLANE面内扫描机械臂。能够精确实现薄膜样品面内2thetaomega 以及面内RSM测量。
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  • 主要学科领域：自然科学相关工程与技术
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  • 服务内容：通过X射线，获取样品衍射图谱
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  • 用户须知：
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