- 项目简介
- 矢量网络可以测试电磁屏蔽和吸波性能。
- 电磁屏蔽计算主要用S参数，吸波效率计算用电磁参数。
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- 样品要求
- 1，粉末样品测试需要用同轴法，粉末样品至少200mg（不需要提供石蜡）；
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- 2，块体样品测试同轴法，要求 外7 内3.04 厚2mm的同轴环；
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- 3，块体样品测试波导法，不同范围对应不同尺寸，具体如下：
- 1.13-1.73GHz：82.4*164.8*(10.0-35.0) mm
- 1.72-2.61 GHz：54.46*108.92*(8.0-12.0) mm
- 2.60-3.95 GHz：33.89*71.84*(8.0-12.0) mm
- 3.94-5.99 GHz：22.0*47.25*(8.0-12.0) mm
- 5.38-8.17 GHz：15.75*34.70*(2.0-6.0) mm
- 8.2-12.4GHz：22.9*10.2*(2.0-6.0)mm
- 12.4-18.0GHz：15.9*8.03*(2.0-4.0)mm
- 18.0-26.5GHz：10.95*4.5*(2.0-4.0)mm
- 26.0-40.0GHz：7.15*3.60*(2.0-4.0)mm；
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- 4，块体样品测试弓形法，要求 180*180mm，300*300mm，600*600mm三个尺寸中的一种（直接测吸波效率的，测不了电磁参数）。
- 5，SPDR 接受块体样品，测试需要厚薄均匀，介电常数＞20，
- 尺寸具体如下（长宽/直径范围，厚度）：
- 1G：110-190mm，3mm
- 2.5G：60-120mm，3mm
- 3G：50-120mm，3mm
- 5G：50-100mm，1.6mm
- 10G：30-100mm，1mm
- 15G：20-100mm，0.5mm
- 20G：20-40mm，0.5mm
- 28G：20-40mm，0.5mm
- 39G：20-40mm，0.5mm
- 6，准光腔：测试需要厚薄均匀，介电常数＞20，长＞40mm,宽＞40mm，厚度＜1mm
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- 常见问题
- 1. 薄膜样品是否可以测试？
- 根据频率确定测试方法，但是鉴于薄膜样品的情况，一般适合用波导法测试，厚度要求不是很严格，需要自己测量好薄膜的厚度。
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- 2. 粉末测试时，和石蜡的掺杂比怎么确定？
- 这个最好根据自己的样品成分，参考文献来确认。不同样品合适的掺杂比例不同。一般测试时，也很难做到一个掺杂比例就可以得到比较好的测试结果，可能需要根据一个比例的测试结果，来调整掺杂比例，以获取更优的测试结果。但是一般样品的比例太高的话，不一定能制成同轴环，所以可能制样不成功，无法测试。
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- 3. 为什么有的介电常数是负值？
- 一般可能是因为试样的浓度太高了（即和石蜡掺杂时，样品的比例太高），基本上快成导体了，已经形成导电通道了，介电数据异常了，不过可以看S参数计算屏蔽效能。这时候材料就只有屏蔽效果了，没有吸波性能了，和金属板差不多了，超过预设阈值了，有导电通道了，不适合这个仪器测试范围了。这种情况，一般建议调整降低样品的比例。
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- 4. 磁导率的虚部为什么是负值？
- 一般这种情况，样品里可能都含有碳材料，具体负磁导率的情况。
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设备简介
2023-02-17
