材料软磁性能测试系统-光衍未来

材料软磁性能测试系统

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设备简介

主要功能：测试交流下磁通密度、剩磁、最大磁场强度、矫顽力、矩形比、Pc，Pcv，Pcm，相位角、总磁通、皮相功率、阻抗磁导率，复数磁导率，电感，电阻，阻抗、品质系数、总谐波失真，B-H曲线，各种电流电压磁通磁场波形
主要技术指标：采用国际电工委员会IEC62044-3标准规定的Cross Power模式，测试频率：正弦波10Hz-10MHz/脉冲波10Hz-1MHz，测试温度：-30度-150度，可以同时测量20个样品，具有远程控制软件，可以进行励磁条件不断变化的全自动测试，最多可进行800组测试，最长测试时间70天，每个60秒自动测试。被测样品限制：任何可形成闭合磁路的样品，数模转换：16bit，曲线解析精度：8192点
主要学科领域：材料科学,物理学
服务内容：对非晶磁性材料、纳米晶磁性材料、铁粉类磁性材料、坡莫合金磁性材料、铁氧体磁性材料等各种软磁材料磁特性的分析、研究。
用户须知：