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原子力显微镜(AFM)
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设备简介
应用于半导体材料、生物材料、高分子材料等研究领域。可以对各类薄膜样品,如半导体材料、光电材料、磁性材料的表面平整度及表面拓扑结构表征;可以对高分子材料、有机材料、橡胶等进行表面力学特性,如杨氏模量、粘滞力、耗损进行定性定量分析;可以对生物样品,如细胞、蛋白质、组织等样品进行快速扫描,检测生命体的反应过程。
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