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中小电流功率循环测试系统
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设备简介
  • 主要功能：用于基于Si和SiC半导体材料的IGBT、MOSFET、DIODE等中小电流等级的单管分立器件的老化试验。
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  • 主要技术指标："1、支持同时对3个器件进行K系数测试、热阻测试、结构函数分析以及功率循环测试；2、加热电流源总电流不低于360A，分三个端口输出。每个端口输出电流不低于120A，电流分辨率≤1A，3、每个端口电压输出范围不小于-10~20V，分辨率≤0.01V；4、测试电流源有三个输出端口，每个端口的最大输出电流不低于1A，分辨率≤0.5mA；5、标定K系数所用温控装置的温度范围不小于0℃~140℃"
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  • 主要学科领域：物理学
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  • 服务内容：用于基于Si和SiC半导体材料的IGBT、MOSFET、DIODE等中小电流等级的单管分立器件的老化试验。
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