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塞贝克系数扫描探针显微镜
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设备简介
  • 电导率-塞贝克系数扫描探针显微镜
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  • 主要功能：热电性能测试/分析测试
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  • 主要技术指标：最小位移步长≤1μm；最大扫描区域：100mm×100mm；位置分辨率1μm。
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  • 主要学科领域：电子与通信技术
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  • 服务内容：电导率、塞贝克系数测试
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  • 用户须知：
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