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Micro/Nano/工业 CT
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设备简介
  • 项目简介
  • CT是一种非侵入性和非破坏性成像技术,在不破坏样品的情况下,利用X射线对物体进行扫描,能够获得样品内部三维结构和形貌信息。纳米、微米CT适用于小尺寸样品高分辨率的检测,分辨率和样品尺寸的对应关系见下表;工业CT适合大尺寸样品检测,320kV强力的微焦点射线源,拥有优秀的解析度与精度,适用于高密度的大型工业样品检测,5轴马达载物台台最大可放置质量100kg的样品。

 

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  • 样品要求
  • 分辨率:指像素点的大小,比如200nm分辨率,就是图片中一个像素点的大小是边长200nm的正方形;假设想要看到的最小特征尺寸是“x µm”,需要使用至少 “0.5x µm”分辨率。

    样品尺寸:样品尺寸越大,能做的分辨率就越低。

    分辨率 高度和直径(mm) 分辨率 高度和直径(mm)
    200nm 0.7 800nm 3.1
    300nm 1.1 900nm 3.5
    400nm 1.5 1um 4
    500nm 1.9 2um 4
    600nm 2.3 X>2um 2X
    700nm 2.7 工业CT:X um X
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