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原子力显微镜AFM
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设备简介
  • 项目简介
  • a. 粉末,溶液,块状样品的表面形貌,厚度,粗糙度测试
  • b. 生物/纤维样品的表面形貌
  • c. 相图
  • d.  PFM(压电力显微镜), EFM(静电力显微镜), KPFM(表面电势), MFM(磁力显微镜), C-AFM/PeakForce TUNA(导电力显微镜),杨氏模量/模量分布,力曲线,液下,变温等特殊模式。
  • 更多测试要求请咨询客户经理;
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  • 样品要求
  • 1. 样品状态:可为粉末、液体、块体、薄膜样品;
  • 2. 粉末样品:常规测试项目样品起伏一般不超过5微米,特殊测试项目样品起伏一般不超过1um,提供20mg,液体不少于1ml,尺寸过大请提前咨询客户经理;
  • 3. 粉末/液体样品请务必备注好制样条件,包括分散液,超声时间及配制浓度;
  • 4. 薄膜或块状样品尺寸要求:长宽0.5-3cm之间,厚度0.1-1cm之间,表面粗糙度不超过5um,一定要标明测试面!块状样品需要固定好,避免在寄送过程产生晃动或摩擦影响测试结果!
  • 5. 测试PFM、KPFM、C-AFM、PeakForce TUNA的材料需要将样品制备在导电基底上,基底大小符合块状样品的尺寸要求,KPFM、C-AFM、PeakForce TUNA的样品需要导电或至少为半导体
  • 6. PFM,KPFM测试需要样品表面十分平整,样品粗糙度最好在10-200nm之间,粉末样品测试很难测到较好结果,下单前请确保风险可接受。
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