俄歇电子能谱AES-光衍未来

俄歇电子能谱AES

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设备简介

俄歇电子能谱（Auger electron spectroscopy，简称AES），是一种表面科学和材料科学的分析技术。因此技术主要借由俄歇效应进行分析而命名之。这种效应系产生于受激发的原子的外层电子跳至低能阶所放出的能量被其他外层电子吸收而使后者逃脱离开原子，这一连串事件称为俄歇效应，而逃脱出来的电子称为俄歇电子。1953年，俄歇电子能谱逐渐开始被实际应用于鉴定样品表面的化学性质及组成的分析。其特点在俄歇电子来自浅层表面，仅带出表面的资讯，并且其能谱的能量位置固定，容易分析。
项目介绍：
AES测试表面谱图点扫；深度刻蚀;Mapping;线扫
样品要求
样品在超高真空下必须稳定，无腐蚀性，无磁性，无挥发性等；固态样品：片状、块状或粉末。另外在样品的保存和传送过程中应尽量避免样品表面被污染。在任何时候，对被分析样品的表面都应尽量少地接触和处理。
建议：样品用干净玻璃瓶盛装或铝箔纸包装。