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200kV场发射透射电子显微镜
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设备简介
  • 主要功能：测试样品内部形貌分析
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  • 主要技术指标：点分辨率≤0.23 nm，线分辨率≤0.10 nm，信息分辨率≤0.12 nm
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  • 主要学科领域：材料科学
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  • 服务内容：为样品提供形貌分析测试
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  • 用户须知：
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