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300KV场发射透射电子显微镜
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设备简介
  • 主要功能：1.高性能的透射电子成像、扫描透射成像和纳米、原子尺度分析 2.所有的先进分析技术集成于一体: TEM、HR-TEM、STEM、HR-STEM、电子衍射和EDS 3.强样品穿透能力
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  • 主要技术指标：1.信息分辨率极限：0.14nm 2.点分辨率：0.20nm 3.线分辨率：0.10nm 4.高分辨STEM分辨率：0.17nm 5.样品最大倾角：±40°
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  • 主要学科领域：化学工程,材料科学,航空、航天科学技术
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  •  服务内容：各种分析技术: TEM、HR-TEM、STEM、SAED和EDS
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  •  用户须知：
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