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低电压透射电镜(TEM)
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设备简介
  • 注意:首次下单用户下单前请联系项目经理确认需求
  • 此链接为低电压TEM下单链接,加速电压为100kv或者120kv,放大倍数最高在10万倍左右(标尺最高50nm),不能满足高分辨形貌、晶格条纹等拍摄要求,下单前请确认。如需要高分辨形貌、能谱、衍射、stem(haddf)等,可首页搜索透射电子显微镜tem进行下单或联系工作人员引导下单。
  • 1.  测试电压80/100/120 KV;
  • 2.  适用样品:有机物含量较高、不耐电子辐射类样品的分析和研究;
  • 3. 样品的厚度不超过100nm,如果颗粒稍大一点,可适当研磨至100nm以下(可先拍SEM判定颗粒大小);
  • 4. 一般制样选微珊铜网即可,如果颗粒直径小于10nm用超薄碳膜制样;样品含Cu,需要拍EDS能谱和mapping可选镍网或者钼网等;薄膜或块状样品需另行制样(如离子减薄、包埋切片、FIB等)
  • 5. 磁性样品要求颗粒大小不超过200nm,且不接受自己制样
  • 6. 请务必仔细检查您的样品,若发现以弱磁强磁充当非磁 或者 以强磁充当弱磁非磁,我们将可能无法安排您的实验,不承担以此造成的时间和样品损失;而且因隐瞒样品信息导致仪器损坏,需要您承担全部赔偿责任!!!

 

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