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原位扫描隧道显微分析系统
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设备简介
  • 低维硅材料的原位扫描隧道显微分析系统
  •  
  • 主要功能：主要用于测试等等方面
  •  
  • 主要技术指标：用于测试，无特殊技术指标
  •  
  • 主要学科领域：材料科学,物理学
  •  
  • 服务内容：主要用于测试等等方面
  •  
  • 用户须知：无
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