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热场发射扫描电子显微镜
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设备简介
  • 主要功能：用来研究样品表面形貌特征，分辨率也比较高；可以原位研究样品在变形过程中的结构变化；在观察形貌的同时，还可做样品的微区成分分析。
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  • 主要技术指标：ZEISS SUPRA 55; FEI NOVA 450; HITACHI SU 70
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  • 主要学科领域：材料科学,化学,物理学,化学工程
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  • 服务内容：金属、矿物、半导体、超导体、磁性材料、催化剂、高分子等固体材料的原位加载、显微形貌观察和化学成分分析及图像处理。
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  • 用户须知：无
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