200kV高分辨透射电子显微镜-光衍未来

200kV高分辨透射电子显微镜

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设备简介

主要功能：透射像（明场、暗场和高分辨像）观察，选区电子衍射结构分析，主要应用于固体材料和纳米材料的内部微观结构观察与分析。配合原位纳米材料单体拉伸性能表征单倾样品台系统使用，将实现力学科学家最关心的纳米结构材料在拉伸、压痕和温度场作用下的原位动态行为，同时也能最大限度的为材料、物理等学科提供纳米材料结构力学性能测试平台。JEM-2100透射电镜应用领域广泛，适用于微纳米力学、材料和物理等学科。
主要技术指标：电子枪： LaB6（六硼化镧）点分辨率：0.23 nm 线分辨率：0.14 nm 加速电压： 200kV 束斑尺寸：1.0-25 nm 放大倍数（高倍）：2000-1,500,000 放大倍数（低倍）：50-6,000 倾斜角：±35o
主要学科领域：材料科学
服务内容：为材料、物理等学科提供纳米材料结构力学性能测试平台。
用户须知：无