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X光计算断层扫描原位测试仪
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设备简介
  • 320千伏X光计算断层扫描原位测试仪
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  • 主要功能：适合各种材料从宏观到微观试件的高精度内部结构表征，无损检测，缺陷识别，破坏机理研究等。
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  • 主要技术指标：最高分辨率可达3微米； 可完成截面尺寸5-230毫米，长度最大为1米，最大质量为100公斤的样品测试； 样品台可实现五轴联动； 超大空间防辐射铅壳； 可选最能微焦点X光源，225kV与320kV。
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  • 主要学科领域：材料科学,土木建筑工程
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  • 服务内容：
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  • 用户须知：
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