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Zeta电位分析仪可测定颗粒在高浓度溶液中的zeta电位可测定固体zeta电位宽粒径范围(0.6nm~10μm)，宽浓度范围(粒径测试：0.00001%~40% 可精确测量各种浓度的悬浮液用户友好的软件多种样品池选择可选择一次性样品池结合线性相关器和对数相关器相结合的技术对各种样品进行表征 Zeta电位分析仪可选择自动滴定装置控制悬浮液pH值

已测试 8 次平均 10 个工作日完成 99.9% 对测试结果满意

冷冻电镜（Cryo-TEM）

冷冻电镜，是用于扫描电镜的超低温冷冻制样及传输技术(Cryo-SEM)，可实现直接观察液体、半液体及对电子束敏感的样品，如生物、高分子材料等。

已测试 99 次平均 7 个工作日完成 99.9% 对测试结果满意

SEM扫描电镜

扫描电子显微镜（SEM）是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品，通过光束与物质间的相互作用，来激发各种物理信息，对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。新式的扫描电子显微镜的分辨率可以达到1nm；放大倍数可以达到30万倍及以上连续可调；并且景深大，视野大，成像立体效果好。此外，扫描电子显微镜和其他分析仪器相结合，可以做到观察微观形貌的同时进行物质微区成分分析。扫描电子显微镜在岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等的研究上有广泛应用

已测试 103 次平均 1 个工作日完成 99.9% 对测试结果满意

原子力显微镜（AFM）

应用于半导体材料、生物材料、高分子材料等研究领域。可以对各类薄膜样品，如半导体材料、光电材料、磁性材料的表面平整度及表面拓扑结构表征；可以对高分子材料、有机材料、橡胶等进行表面力学特性，如杨氏模量、粘滞力、耗损进行定性定量分析；可以对生物样品，如细胞、蛋白质、组织等样品进行快速扫描，检测生命体的反应过程。

已测试 35 次平均 1 个工作日完成 99.9% 对测试结果满意

TEM透射电镜

可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构，这些结构称为亚显微结构或超微结构。要想看清这些结构，就必须选择波长更短的光源，以提高显微镜的分辨率。1932年Ruska发明了以电子束为光源的透射电子显微镜，电子束的波长要比可见光和紫外光短得多，并且电子束的波长与发射电子束的电压平方根成反比，也就是说电压越高波长越短。TEM的分辨力可达0.2nm

已测试 19 次平均 1 个工作日完成 99.9% 对测试结果满意

FIB-聚焦离子束系统

FIB（聚焦离子束，Focused Ion beam)是将离子源(大多数FIB都用Ga，也有设备具有He和Ne离子源)产生的离子束经过离子枪加速,聚焦后作用于样品表面。作用： 1.产生二次电子信号取得电子像.此功能与SEM（扫描电子显微镜）相似 2.用强电流离子束对表面原子进行剥离,以完成微、纳米级表面形貌加工。 3.通常是以物理溅射的方式搭配化学气体反应，有选择性的剥除金属，氧化硅层或沉积金属层。

已测试 6 次平均 1 个工作日完成 99.9% 对测试结果满意

XPS（X-射线光电子能谱仪）

XPS作为一种现代分析方法，具有如下特点 [2] ：（1）可以分析除H和He以外的所有元素，对所有元素的灵敏度具有相同的数量级。（2）相邻元素的同种能级的谱线相隔较远，相互干扰较少，元素定性的标识性强。（3）能够观测化学位移。化学位移同原子氧化态、原子电荷和官能团有关。化学位移信息是XPS用作结构分析和化学键研究的基础。（4）可作定量分析。既可测定元素的相对浓度，又可测定相同元素的不同氧化态的相对浓度。（5）是一种高灵敏超微量表面分析技术。样品分析的深度约2 nm，信号来自表面几个原

已测试 13 次平均 3 个工作日完成 99.9% 对测试结果满意

XRF（X射线荧光光谱仪）

是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。这种现象被广泛用于元素分析和化学分析，特别是在金属，玻璃，陶瓷和建材的调查和研究，地球化学，法医学，考古学和艺术品，例如油画和壁画。

已测试 3 次平均 3 个工作日完成 99.8% 对测试结果满意

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