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Zeta电位分析仪可测定颗粒在高浓度溶液中的zeta电位可测定固体zeta电位宽粒径范围(0.6nm~10μm)，宽浓度范围(粒径测试：0.00001%~40% 可精确测量各种浓度的悬浮液用户友好的软件多种样品池选择可选择一次性样品池结合线性相关器和对数相关器相结合的技术对各种样品进行表征 Zeta电位分析仪可选择自动滴定装置控制悬浮液pH值

已测试 24 次平均 10 个工作日完成 99.9% 对测试结果满意

冷冻电镜（Cryo-TEM）

冷冻电镜，是用于扫描电镜的超低温冷冻制样及传输技术(Cryo-SEM)，可实现直接观察液体、半液体及对电子束敏感的样品，如生物、高分子材料等。

已测试 99 次平均 7 个工作日完成 99.9% 对测试结果满意

原子力显微镜（AFM）

应用于半导体材料、生物材料、高分子材料等研究领域。可以对各类薄膜样品，如半导体材料、光电材料、磁性材料的表面平整度及表面拓扑结构表征；可以对高分子材料、有机材料、橡胶等进行表面力学特性，如杨氏模量、粘滞力、耗损进行定性定量分析；可以对生物样品，如细胞、蛋白质、组织等样品进行快速扫描，检测生命体的反应过程。

已测试 135 次平均 1 个工作日完成 99.9% 对测试结果满意

FIB-聚焦离子束系统

FIB（聚焦离子束，Focused Ion beam)是将离子源(大多数FIB都用Ga，也有设备具有He和Ne离子源)产生的离子束经过离子枪加速,聚焦后作用于样品表面。作用： 1.产生二次电子信号取得电子像.此功能与SEM（扫描电子显微镜）相似 2.用强电流离子束对表面原子进行剥离,以完成微、纳米级表面形貌加工。 3.通常是以物理溅射的方式搭配化学气体反应，有选择性的剥除金属，氧化硅层或沉积金属层。

已测试 87 次平均 1 个工作日完成 99.9% 对测试结果满意

XRD (X-射线粉末衍射仪）

XRD即X射线衍射,通常应用于晶体结构的分析。X射线是一种电磁波,入射到晶体时在晶体中产生周期性变化的电磁场。引起原子中的电子和原子核振动,因原子核的质量很大振动忽略不计。振动着的电子是次生X射线的波源,其波长、周相与入射光相同。基于晶体结构的周期性,晶体中各个电子的散射波相互干涉相互叠加,称之为衍射。散射波周相一致相互加强的方向称衍射方向,产生衍射线。

已测试 1239 次平均 3 个工作日完成 99.8% 对测试结果满意

SC-XRD (X-射线单晶衍射仪）

1、精确测定小分子无机物、有机物、配合物以及蛋白质大分子等晶态物质的三维空间结构(包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度)及分子在晶格中的实际排列状况 2、可提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型及构象等结构信息。 3、晶体X-射线衍射数据收集、数据处理（还原、校正）、晶体结构解析、分子图、分子堆积图绘制等。

已测试 1746 次平均 3 个工作日完成 99.9% 对测试结果满意

激光粒度仪 (DLS）

技术指标测试范围：0.1-40μm/0.6-120μm/1-300μm 通道数：32×3 准确度误差/重复性误差：<1%（国家标准样品）测量原理：全米氏散射理论激光：He-Ne；λ=632.8nm；p>2mW；操作模式：智能全自动分散方法：湿法，超声/机械搅拌/全内置循环测试速度：<2min/次

已测试 89 次平均 3 个工作日完成 99.8% 对测试结果满意

各种团簇制备/光电催化性能测试

金属(合金）、半导体、非导体等各种团簇制备；团簇表面干净，没有保护配体的干扰，可制备高活性团簇；团簇尺寸控制范围大（2－60,000 atoms，0.5-20nm）、精度高∆m/m≈ 2.5%；结构（核/壳）和成份可控；沉积方式和能量可控

已测试 74 次平均 7 个工作日完成 99.9% 对测试结果满意

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