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  • 主要功能:可用于对新型纳米材料的成分进行分析,可对微纳光学器件的薄膜厚度、结构进行分析,也可对超导材料的远红外性质进行分析等。样品仓及光学仓为真空密封系统,真空度优于3mba;包含变角优于15°- 80°的自动变角附件,以及中近红外偏振片及自动偏振片架。红外成像显微镜光谱范围:单点检测器12,000-600cm-1;焦平面阵列检测器:4000-850cm-1;空间分辨率:优于10µm;检测器:双检测器配置,且其中一个为64×64 FPA焦平面阵列检测器。
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  • 主要技术指标:1. 红外主机性能指标:光谱范围:15,500-350 cm-1;最高分辨率:优于0.08cm-1,样品仓及光学仓为真空密封系统,真空度优于3mbar;包含变角优于15°- 80°的自动变角附件,以及中近红外偏振片及自动偏振片架。VERTEX 80v FTIR with room temperature DLaTGS and InGaAs detectors. 2. 红外成像显微镜性能指标:光谱范围:单点检测器12,000-600cm-1;焦平面阵列检测器:4000-850cm-1;空间分辨率:优于10µm;检测器:双检测器配置,且其中一个为64×64 FPA焦平面阵列检测器。HYPERION 3000 Infrared Microscope, with 36× and 15× transmission/reflection objectives, liquid nitrogen cooled MCT and FPA detectors, and computer-controlled x-y stage.
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  • 主要学科领域:信息与系统科学相关工程与技术
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  • 服务内容:可用于对新型纳米材料的成分进行分析,可对微纳光学器件的薄膜厚度、结构进行分析,也可对超导材料的远红外性质进行分析等。样品仓及光学仓为真空密封系统,真空度优于3mba;包含变角优于15°- 80°的自动变角附件,以及中近红外偏振片及自动偏振片架。红外成像显微镜光谱范围:单点检测器12,000-600cm-1;焦平面阵列检测器:4000-850cm-1;空间分辨率:优于10µm;检测器:双检测器配置,且其中一个为64×64 FPA焦平面阵列检测器。
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