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原子力显微镜
主要功能:1、在力测量中,原子力显微镜可以用来测量探针和样品之间的力,作为它们相互分离的函数。这可以应用于力谱分析,测量样品的机械特性。 2、对于成像来说,探针对样品施加在其上的力的反应可以用于以高分辨率形成样品表面的三维形状(形貌)的图像。这是通过光栅扫描样品相对于顶端的位置并记录对应于恒定探针-样品相互作用的探针高度来实现的。表面形貌通常显示为伪彩色图。 3、在操作中,顶端和样品之间的力也可以通过可控的方式来改变样品的性质。这方面的例子包括原子操作、扫描探针光刻和细胞的局部刺激。 在采集形貌图像的同时,可以局部测量样品的其他特性,并显示为图像,通常具有类似的高分辨率。这种性质的例子是机械性质,如硬度或粘合强度,以及电性质,如导电性或表面电势。
主要技术指标:"1.系统主要工作模式1.1自动扫描模式1. 2轻敲模式1.3非接触模式成像1.4接触模式1.5磁力显微镜1.6表面电势显微镜1.7压电力显微镜2.扫描器系统Scanner*2. 1平板闭环设计扫描器,三轴运动方向正交。X-Y扫描器在样品下方,Z向扫描 器在样品上方;闭环控制XY方向扫描范围不小于100微米;Z方向闭环扫描范围 不小于15微米;Z方向噪声水平:闭环控制下,小于30pm (RMS) ; XY方向分辨 率:闭环控制下,不大于0. 25nm (RMS)。2.2进针方式:智能自动高速进针方式,釆用马达加压电陶瓷自动探测的智能进针 模式,以保护探针及样品。*2.3系统自动统计纳米力学成像模式,可以在高效得到样品图像同时,得到样品 表面刚度,杨氏模量,粘附力等力学信息;系统自动增强型静电力显微镜模式, 样品和针尖上均可加±10v电压,包括静电力显微镜,动态模式静电力显微镜,压 电力显微镜,表面电势显微镜。*2. 4配备高速扫描头,最大扫描线速度不低于50Hz;同时测试中可实现单线扫描 变速功能,遇到台阶样品台阶是速度自动降低,减少探针磨损。3.硬件系统Hardware3.1控制器额外内置三个独立锁向通道;单次测试不少于8通道,最高像素不低于 4096X4096;。*3. 2全自动X-Y位移台,样品台程序控制可自动跑满不小于200mm*200mm范围无 盲区,定位精度lum;自动进针系统,Z向马达程序控制;电动位移行程:25 mm。 *3.3必须采用同轴光源设计,物镜必须在样品的正上方,不采用物镜镜头斜视设 计。软件控制显微镜成像系统聚焦,系统可自动聚焦。3.4探针安装到扫描器上的固定方式釆用磁吸式,可以手持式安装,无需借助任何 辅助工具;不接受针脚固定方式固定探针夹。4.软件系统Software4.1具有智能测量模式,可智能自动设制实验参数,方便初学者或有大量样品情 况下进行操作实验;4.2具有下针反馈系统,利于快速下针,且避免撞针;4. 3测试及分析软件可终身免费升级(硬件允许情况下);*4.4需配备中文界面软件操作系统具备程序化控制多点自动测试功能,自动数据 分析;5 防震隔音装置 Acoustic Enclosure System*5.1配备原厂隔音罩,可起到防风,防噪音等控制,隔温,尺寸不小于900 x800 x 1150 mm;并配备主动电磁式防震平台(非气浮减震台)。"
主要学科领域:物理学,生物学
服务内容:1、在力测量中,原子力显微镜可以用来测量探针和样品之间的力,作为它们相互分离的函数。这可以应用于力谱分析,测量样品的机械特性。
用户须知:无
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光电子显微镜
主要功能:通过观察样品表面发射的电子,可以获得极高分辨率的表面形貌、化学成分和磁性信息(横向分辨率最高可达到40nm)。
主要技术指标:Focus PEEM的电子光学系统包括三级静电透镜系统,结合精心设计的消像散器/偏转模块,使得Focus PEEM具有极高的空间分辨率。 1.符合VT-SPM UHV系统工作条件及安装要求 2.横向分辨率优于40nm 3.分析区域的尺寸连续可调,最小分析区域直径5微米,最大分析区域直径600微米 4.仪器面板操作控制或计算机软件控制 5.计算机数据采集、处理,最高12.5幅/秒采集速度 6.可选配集成样品台,提供高的稳定性和定位精度以及信噪比 7.样品可加热至约2000度
主要学科领域:材料科学
服务内容:
用户须知:专业仪器,非专业人员不得操作
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扫描探针显微镜
主要功能:主要功能: 扫描探针显微镜利用具有纳米量级曲率半径的微探针在样品表面往复扫描,通过探测样品与纳米探针之间的相互作用力来获取样品的基本物性,主要用于测量材料的表面形貌、粘弹性、压电力、摩擦力等表面性质。Dimension Icon 型扫描探针显微镜主要测试功能包括:表面三维形貌(粗糙度)测试、静电力显微镜(EFM)模式、磁力显微镜(MFM)模式、摩擦力显微镜(LFM)模式、压电力显微镜(PFM)模式、导电原子力显微镜(C-AFM)模式、扫描电容显微镜(SCM)模式、开尔文探针力显微镜(KPFM)模式等。
主要技术指标:技术指标:最大扫描范围:XY方向90 μm; Z方向10 μm ? 可支持样品尺寸:直径≤210 mm ;厚度≤15 mm ? XY方向定位噪音(闭环):≤ 0.15nm RMS ? Z方向噪音 (闭环):≤ 0.035nm RMS
主要学科领域:材料科学
服务内容:需要提前进行测试预约,并与管理员确认测试内容
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纳米检测显微镜
主要功能:涵盖了低倍到高倍观察,并配有多种观察方法可以迅速发现观察对象。 可以完成低倍到高倍的大范围倍率观察。不仅如此,先进光学技术打造的光学显微镜带来多种观察方法,可以容易的发现观察对象。此外,对于光学显微镜难以找到的观察对象,还可以使用激光显微镜进行观察。在激光微分干涉(DIC) 观察中,可以进行纳米级微小凹凸的实时观察。
主要技术指标:涵盖了低倍到高倍观察,并配有多种观察方法可以迅速发现观察对象。 可以完成低倍到高倍的大范围倍率观察。不仅如此,先进光学技术打造的光学显微镜带来多种观察方法,可以容易的发现观察对象。此外,对于光学显微镜难以找到的观察对象,还可以使用激光显微镜进行观察。在激光微分干涉(DIC) 观察中,可以进行纳米级微小凹凸的实时观察。
主要学科领域:力学
服务内容:涵盖了低倍到高倍观察,并配有多种观察方法可以迅速发现观察对象。 可以完成低倍到高倍的大范围倍率观察。不仅如此,先进光学技术打造的光学显微镜带来多种观察方法,可以容易的发现观察对象。此外,对于光学显微镜难以找到的观察对象,还可以使用激光显微镜进行观察。在激光微分干涉(DIC) 观察中,可以进行纳米级微小凹凸的实时观察。
用户须知:暂无
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近场光学显微镜
主要功能:与拉曼联用的近场光学显微镜可同时获得材料表面的形貌和成份信息,并可获得相应表面波导等光学特性的的信息,其应用领域十分广泛,可用于研究无机材料、有机材料、薄膜材料、生物材料、有机/无机复合材料的表面分析等等。
主要技术指标:分辨率:取决于孔径,小于100nm。 激光波长:532nm1,可进行拉曼成像。 工作模式:反射模式及收集模式。 探针种类:玻璃光纤式探针
主要学科领域:材料科学,物理学
服务内容:
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红外热成像系统
主要功能:采集与分析物体的红外能量
主要技术指标:ResearchIR max红外操作分析软件(成套设备附清单)
主要学科领域:土木建筑工程
服务内容:采集与分析物体的红外能量
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生物扫描探针显微镜
主要功能:形貌扫描;表面粗糙度分析;表面电势和形貌分析;纳米力学性质;力曲线分析;化学探针扫描;微纳米操作。工作环境:空气;溶液(中性、酸性溶液,非水溶液)
主要技术指标:Nanoscope IVa
主要学科领域:化学
服务内容:
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磁光克尔显微镜
主要功能:用于观察磁性材料的静态或动态磁畴结构,及磁滞回线测量。适用于薄膜、块体、粉末等多种形态样品
主要技术指标:光源:高稳定性LED光源;极限分辨率:300nm;磁场范围:a). 水平方向:-1.3~1.3T;b). 垂直方向:-0.95~0.95T;温度范围:a). 室温组件:室温大气环境;b). 高温组件:室温~873K;c). 低温组件:4K~室温
主要学科领域:材料科学
服务内容:用于观察薄膜、块体、条带等磁性材料表面的静态或动态磁畴结构,及磁滞回线测量。
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