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  • 飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)
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  • 项目简介
  • 可做项目:质谱、面扫、深度剖析。
  • TOF-SIMS的数据的纵坐标是计数,是强度,不同离子的产额不同,产额高的谱峰强,并不代表含量高,简单说就是强度和含量没有什么直接关系;
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  • 样品要求
  • 深度剖析只能是块体样品,长宽1cm,厚度不超过5mm;
  • 粉末只能做质谱或者面扫,液体等粘性样品无法测试。

 

  • 常见问题
  • 1. 质谱测试正负离子模式是什么?

  • TOF-SIMS是采用初级离子源(Bi源)入射样品的表面激发出材料里的离子,通常给样品加不同偏压分别采集正离子或负离子,金属离子主要在正离子模式产额比较高,而电负性元素如O\OH\F\Cl\S\N\Br等在负离子模式产额高,如果组分有金属氧化物,比如NiO, 那一定会在正离子模式产生Ni原子离子,以及NixOy的分子离子,而负离子模式一定有O原子离子,同时也有NixOy的分子离子,当然在正离子模式下大多数情况 x>y, 负离子模式下x<y,  这个案例中也有NiOH这样的离子,说明有可能有氢氧化物存在。


  • 2. tof-sims可以看含量不??应该怎么做?

  • 正常TOF-SIMS是看不了含量的,数据横坐标是M/Z,纵坐标是强度/计数。理由如下:强度与含量是没有直接关系的。首先,同种基材不同离子的产额不同,产额高的谱峰强度高,但并不代表含量高,也就是说谱峰强弱与含量没有直接对应关系,如果要定量必须选用与测试样品基体效应相同的标准样品,得到灵敏度因子才可以定量!第二,同种离子在不同基体材料中的离子产额也不同,所以同一样品不同离子谱峰强度与含量无关,同种离子在不同材料中的谱峰强弱也与含量无关,只有同种材料的不同样品中的同种离子可以比较,谱峰强度高代表含量高。做深度溅射曲线可以看随深度方向,分子片段的相对变化趋势。
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  • 3. 测试的是同样一个位置吗?
  • 质谱和mapping默认测试是同样一个位置,深度剖析正负离子是不同位置。
已测试 55 次 平均 7 个工作日完成 100% 对测试结果满意
  • 飞秒瞬态吸收光谱仪(fs-TAS)
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  • 项目简介
  • 瞬态吸收光谱(TAS)是一种常见的超快激光泵浦-探测技术,是研究发光或者非辐射复合等过程中激发态的弛豫过程的有力工具。
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  • 样品要求
  • 1、粉末样品旋涂制样,旋涂在高透过的石英玻璃上面,一般淘宝都可以定做尺寸,2cm*2cm大小就行,厚度越薄越好。最好是均匀旋涂,拿远了看可以看到光的透过。②压片制样,将粉末在载玻片上压成薄薄的可透光的片,石英玻璃片大于1*1cm小于3*3cm,粉末压片要大于5*5mm。固定用两枚玻片上下夹住粉末压片,四角用环氧树脂粘一下。③可溶粉末可以制成均匀溶液。
  • 2、块体样品:①薄膜以及涂层样品保证表面光滑平整,信号会更加稳定。②如果是单晶样品的话,需要贴在高透光石英玻璃上面,石英玻璃片大于1*1cm小于3*3cm,单晶样品大于3*3mm即可,用环氧树脂胶粘一角固定一下。
  • 3、液体样品:液体样品测试需要用到需要装在光程1-2mm的比色皿。需要实验人员制样的可以分别寄送溶质和溶剂,给出建议配比,由实验人员根据信号强弱适当调整。不测试有毒,易燃,挥发的溶剂。最好是将样品提前配置好,寄送样品直接测试。液体要保证混合均匀,没有沉淀,透光性好。悬浮液不建议做液体测试,信号很差,悬浮液可以涂在石英片上烘干,作为涂层测试。
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  • 常见问题
  • 1. 激发波长用多少?

    答:可查文献或者测紫外吸收谱,通过峰值判断。

已测试 47 次 平均 7 个工作日完成 100% 对测试结果满意
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