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X光计算断层扫描原位测试仪
320千伏X光计算断层扫描原位测试仪
主要功能：适合各种材料从宏观到微观试件的高精度内部结构表征，无损检测，缺陷识别，破坏机理研究等。
主要技术指标：最高分辨率可达3微米； 可完成截面尺寸5-230毫米，长度最大为1米，最大质量为100公斤的样品测试； 样品台可实现五轴联动； 超大空间防辐射铅壳； 可选最能微焦点X光源，225kV与320kV。
主要学科领域：材料科学,土木建筑工程
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X射线单晶衍射仪
主要功能：物质结构测试，单晶衍射
主要技术指标：50kv，20mA，变温100k-450k
主要学科领域：化学
服务内容：常规简单测试不接收，只接收变温测试
用户须知：常规简单测试不接收，只接收变温测试
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小角X射线衍射仪
主要功能：小角X射线散射仪，可以同时用于胶体分散体系、材料、液晶、生物大分子、石油、化工、纺织等等领域的科学研究实验
主要技术指标：光源：Genex3D ULD (Ultra low Divergence) 聚焦镜：FOX3D 12-INF (Collimating Optic)
主要学科领域：材料科学,化学
服务内容：主要应用于纳米材料，介孔材料、高聚物、胶体分散体系、粉末、液晶、生物大分子、石油、化工、纺织等领域的科学研究实验
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小角X射线散射仪
主要功能：研究物质在纳米尺度上（1-100nm）的几何结构，测定散射体的形状、尺寸及其分布。适用于从液体到固体的多种形态，可以得到诸如纳米粒度分布、形貌、结晶、取向、比表面等纳米结构信息，以研究物质性能与其结构的关系，以及在不同加工条件下的动态结构变化。可以测量的材料范围非常宽。如：聚合物、胶体、液晶、纤维、金属以及生物材料。对样品的适用范围非常宽，一般情况下，液体、粉末、薄膜、块体材料，甚至活体都可以测试；在研究液体时最为方便。
主要技术指标：温度测量范围：-100℃~320℃ 光源类型：高亮度微焦斑固定靶点光源，靶材Cu,功率30W 最大功率密度≥8.0 KW/mm2 靶上焦斑直径≤30μm 小角探测器信号采集面积：70mm×83.8 mm 广角探测器信号采集面积：83.8 mm×33.5mm 点扩散函数PSF≤1个像素 探测器量子效率≥98% 升降温速率：0.1-100℃/min 2θ角度范围：0.03°至60°二维图谱 实际测试的样品纳米粒径尺寸：≥250 nm
主要学科领域：化学、材料
服务内容：小角散射SAXS、广角散射WAXS、 原位变温散射、 原位拉伸散射、 掠入射GIWAXS
用户须知：一、请用户联系管理员填写测试样品检测委托单，管理员根据测试需求安排测试。 二、送验的样品应具有代表性并满足分析测试要求，如需要本平台制样，则需提供足够数量的样品，本平台依制样的难易程度，酌情进行收费。 三、贵重样品、有毒或有放射性的危险样品，容易变质和损坏的样品，有磁性的样品和易磁化的样品请在测试委托单中说明，必要时请注明保管条件。 四、检验费按平台规定收取。一般本平台在收到样品后5个工作日进行测试；测试完成5个工作日出具检验结果。成分复杂、难处理或检测方法不明确要做试验探索的，会适当延长检验时间。要求本平台加急出示测试结果的，平台将收取加急费用。 五、对于有长期测试需求的用户，可签订委托协议，具体事宜请与联系人联系。 六、本平台郑重声明：严守秘密，保护委托方所有权包括专利权、技术秘密、商业秘密等不受侵犯。
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智能转靶X射线衍射仪
主要功能：配备了ASC-10自动样品台，可同时装10个样品测试；配备了αβ样品台，可进行极图/残余应力测试；配备了多功能高温附件，可在室温~1400℃进行原位测试；配备了TIK600中低温附件，可在-190℃~600℃进行原位测试；配备了SAXS单元，可进行透射小角X射线散射测试。
主要技术指标：光管电压可变范围：20 ~ 60 kV；光管电流可变范围：2 ~ 60 mA；最小步长：θs：0.0001°，θd：0.0001°
主要学科领域：材料科学
服务内容：XRD测试 自带样品，提前沟通
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多功能高分辨X射线衍射仪
主要功能：可实现对半导体材料的结构和物相鉴定，以及通过进行Rocking Curve、Omega-2Theta扫描，评价半导体材料结晶质量，分辨率≤25arcsec，同时可以测定薄膜厚度，组分和弛豫度、粗糙度等
主要技术指标：θ/2θ可读最小步长可以达到0.0001°以下，角度重现性在0.0002°以下
主要学科领域：物理学
服务内容：可实现对半导体材料的结构和物相鉴定，以及通过进行Rocking Curve、Omega-2Theta扫描，评价半导体材料结晶质量，分辨率≤25arcsec，同时可以测定薄膜厚度，组分和弛豫度、粗糙度等。支持自主上机使用。
用户须知：无
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衍射仪(含冷热台)
主要功能：二维面探X射线衍射仪配有高精度五轴全自动样品台，主要用于织构/取向 分析、微小区域分析、应力分析和取向样品的结晶度测量等研究领域。采用二维探测器XRD可直接处理二维德拜环的测量数据，解决了常规探测器微区强度衰减过大的问题，具有精度高、速度快等常规一维探测器无可比拟的优点
主要技术指标：X光管类型：Cu靶、Co靶、Cr靶，功率2.2KW；角度重现性：±0.0001°，最小可读步长：0.0001°；准确度：测试标准样品在10~160°范围内角度偏差不超过±0.05°；立式测角仪，1/4尤拉环；探测器有效面积：≥14000mm2，探测器像素个数2048* 2048。
主要学科领域：材料科学
服务内容：分析检测、技术咨询
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变温X射线衍射仪
主要功能：可以测定样品在中低温和高温范围的晶体结构特征。包括不同温区样品的晶体结构，物相定性、定量分析，晶格常数测定，晶粒大小测定与晶胞畸变及结晶度分析，物相丰度定量分析，纳米样品粒径、空孔尺寸分析等。特别适合用于各种材料在不同温度时物相变化的定性、定量分析研究，样品材料可以包括无机材料、有机材料、复合材料、纳米材料等粉末、块状、薄膜、微区微量样品。
主要技术指标：X射线发生器和机柜： 最大输出功率：3kW 最大管压： 60kV，1mV/步, 机柜同步数字显示 最大管压： 60mA，1mA/步,机柜同步数字显示 电源稳定度：0.005% ( 外 电 源 变 化10％) X射线防护标准：？1？Sievert/h (10cm距离) 金属陶瓷X光 管： 最大功率：2.2kW (Cu靶)，其他靶材可选 最大管压：60kV 最大管流：55mA 焦斑：12x0.4mm长 细 焦 斑及 点 焦 斑 保证寿命：二年或4000小时 点线焦斑可自由切换无需校准，更换光管无需校准 测角仪: 角度重现性：+/- 0.0001 度 最小步长： 0.0001 度，可以停止在任何规定角度 编码方式：双光学编码 测角仪半径：240mm 光学编码： 直接光学定位（DOPS2） 马达驱动：直流马达 整机重现性：0.001？ PIXcel3D 全能2维矩阵探测器 计数矩阵： 256x256 pixcel 像素大小： 55？mx55？m 99%线性范围：1x1010cps 静态扫描范围：6.5？ 最小背景：1cps 工作方式： 0维（点探测器），1维（阵列探测器模式），2维（面探测器模式），3维（CT探测器模式） 保证分辨率：0.028？ 2？ （NIST660a样品）
主要学科领域：材料科学,化学工程
服务内容：可在材料、化工、高分子科学、物理、化学、生物、制药等学科。
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