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高分辨肖特基场发射扫描电镜
主要功能：Quattro S是一台将扫描电镜成像性能与环境模式（ESEM）相结合的电镜。它具备三种真空操作模式（高真空、低真空和环境真空），使得SEM的样品类型具备了更多的灵活性，包括放气或者是与真空状态不相容的样品。环境真空模式还可实现对现实世界条件的模拟，对样品进行原位研究，例如潮湿、热或反应性的环境满足低真空样品和原位观察分析的电镜需求。 The Quattro SEM combines topography SEM analysis with Environmental Scanning Electron Microscope mode(ESEM). It has three vacuum modes(high vacuum, low vacuum, and ESEM), which provides more flexibility for samples, including outgassing ones or poor accomodation by high vacuum. In-situ observation is possible at ESEM mode (up to 4000 Pa), along with other tunable 'real world' chamber conditions, including temperature, humidity, and partial pressure of reactive gases. This SEM is fully equipped with extensive analytical and in-situ capabilities for its unique tunable environmental conditions.
主要技术指标：高真空分辨率：30 kV下≤0.8 nm (STEM),≤1.0 nm (SE),≤2.5 nm (BSE)；1kV下≤3.0nm（SE）； 低真空分辨率：30 kV下≤1.3 nm (SE)，≤2.5 nm (BSE)；3kV下≤3.0nm（SE）； 环境真空分辨率：30 kV下≤1.3 nm (SE) 配备能谱仪：有效晶体面积100mm2，高分子超薄窗设计，无需液氮冷却 帕尔贴冷台1套，控温范围-20~60℃； 帕尔帖冷台集成式STEM 1套，用于观察湿薄样品； 低真空/环境真空加热台，最高加热温度1400℃； High Vacuum Resolution: 30 kV≤0.8 nm (STEM),≤1.0 nm (SE),≤2.5 nm (BSE)；1kV≤3.0nm（SE） Low Vacuum Resolution：30 kV≤1.3 nm (SE)，≤2.5 nm (BSE)；3kV≤3.0nm（SE）； ESEM Resolution：30 kV≤1.3 nm (SE) EDS Detector: possible sensor size up to 100mm2; Cooling Stage:-20~60℃ for bulk samples; WetSTEM :-20~60℃ for thin samples; Heating Stage: up to 1400℃
主要学科领域：材料科学
服务内容：Quattro S是一台将扫描电镜成像性能与环境模式（ESEM）相结合的电镜。它具备三种真空操作模式（高真空、低真空和环境真空），使得SEM的样品类型具备了更多的灵活性，包括放气或者是与真空状态不相容的样品。环境真空模式还可实现对现实世界条件的模拟，对样品进行原位研究，例如潮湿、热或反应性的环境满足低真空样品和原位观察分析的电镜需求。 The Quattro SEM combines topography SEM analysis with Environmental Scanning Electron Microscope mode(ESEM). It has three vacuum modes(high vacuum, low vacuum, and ESEM), which provides more flexibility for samples, including outgassing ones or poor accomodation by high vacuum. In-situ observation is possible at ESEM mode (up to 4000 Pa), along with other tunable 'real world' chamber conditions, including temperature, humidity, and partial pressure of reactive gases. This SEM is fully equipped with extensive analytical and in-situ capabilities for its unique tunable environmental conditions.
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极低温强磁场扫描隧道显微镜
主要功能：低温强磁场条件下对凝聚态样品表面原子成像，测量电子能谱，电性测量
。
主要技术指标：XY方向扫描范围 在 RT/4.2K/2K温度下大于4/1.2/1.2微米。 Z方向工作范围 在 RT/4.2K/2K温度下大于250/70/60纳米。 Z向分辨率 室温下好于0.02nm，4.2K下好于0.01nm。 XY方向分辨率 室温下好于0.05nm，4.2K下好于0.01nm。 稳定性 XY方向的漂移小于0.2nm/hour，Z方向小于0.1nm/hour。 样品台 在XY平面内，样品能够在±0.5mm范围内粗动。
主要学科领域：物理学
服务内容：低温凝聚态物理实验
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球差矫正透射电子显微镜
主要功能：主要为透射模式纳埃级微区结构分析、成分分析等。
主要技术指标：300kV时，分辨率0.08nm（mono off）；0.07nm（mono on）。 80kV时，可实现石墨烯等二维薄材料的原子缺陷观察等
主要学科领域：材料科学,能源科学技术,物理学,化学工程
服务内容：主要为透射模式纳埃级微区结构分析、成分分析等。
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环境球差校正透射电子显微镜
主要功能：Titan ETEM G2 80-300是一款绝佳的原位高分辨率电子显微镜，用于研究在变化的温度和气体条件下原子级化学反应的动态行为。目前Titan已成为全球各地杰出研究人员的首选扫描/透射电子显微镜(S/TEM)，通过TEM和STEM模式在各种材料和工作条件下进行亚原子级的探索和研究，技术先进、操作简单、升级方便。凭借独一无二的差动泵目镜，标本区可变身为实验室，展开对催化剂微粒、纳米器件和其他材料的研究，进而在原子级别洞察表面和界面形态及相互作用。在需要时，Titan ETEM还可作为标准S/TEM开展原子级别成像。
主要技术指标：Titan ETEM G2 80-300是一款绝佳的原位高分辨率电子显微镜，用于研究在变化的温度和气体条件下原子级化学反应的动态行为。目前Titan已成为全球各地杰出研究人员的首选扫描/透射电子显微镜(S/TEM)，通过TEM和STEM模式在各种材料和工作条件下进行亚原子级的探索和研究，技术先进、操作简单、升级方便。凭借独一无二的差动泵目镜，标本区可变身为实验室，展开对催化剂微粒、纳米器件和其他材料的研究，进而在原子级别洞察表面和界面形态及相互作用。在需要时，Titan ETEM还可作为标准S/TEM开展原子级别成像
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主要学科领域：材料科学
服务内容：Titan ETEM G2 80-300是一款绝佳的原位高分辨率电子显微镜，用于研究在变化的温度和气体条件下原子级化学反应的动态行为。目前Titan已成为全球各地杰出研究人员的首选扫描/透射电子显微镜(S/TEM)，通过TEM和STEM模式在各种材料和工作条件下进行亚原子级的探索和研究，技术先进、操作简单、升级方便。凭借独一无二的差动泵目镜，标本区可变身为实验室，展开对催化剂微粒、纳米器件和其他材料的研究，进而在原子级别洞察表面和界面形态及相互作用。在需要时，Titan ETEM还可作为标准S/TEM开展原子级别成像。
用户须知：安装调试中
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原子力显微镜 (快扫)
主要功能：可将高空间分辨率（横向小于1纳米，纵向小于0.1纳米）与高时间分辨率（亚秒）结合起来，能够快速进行微区定性\定量分析材料表面的三维形貌、晶体结构、力学、摩擦学、电学及磁学等性质，以及实现纳米刻蚀和操纵等加工功能。它将极大提高测试效率，为多个空间和时间尺度上研究生物大分子的快速动力学过程提供依据。
主要技术指标：X,Y方向扫描范围30μm，Z方向5μm；X,Y轴闭环噪音<60pm（Adev,1Hz到1KHz带宽）；系统高度噪音(探针接触样品表面)<15pm（Adev,1Hz到1KHz带宽）；扫描速线度500Hz，最高扫描成像每秒12帧； CMOS像素点≥300万，光学分辨率≤1微米。内置一体化的温度控制模块，可实现0℃至120℃的变温。
主要学科领域：材料学、基础医学、化学、生物学
服务内容：快速进行微区定性\定量分析材料表面的三维形貌、晶体结构、力学、摩擦学、电学及磁学等性质，以及实现纳米刻蚀和操纵等加工功能。
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超快时间分辨荧光成像系统
主要功能：材料的微区稳态荧光光谱、瞬态荧光光谱以及变温光学性质测量。
主要技术指标：1.可测量最短荧光寿命：2ps； 2.光谱范围：200nm-900nm； 3.温度范围：80k-500k连续可调。 4.光谱分辨率：≤ 0.08 nm@1200l/mm光栅＆PMD。
主要学科领域：材料科学,化学工程,化学
服务内容：主要用于材料显微及变温环境下的荧光寿命测试（可测维纳结构的稳态瞬态光谱）
用户须知：请提前预约，根据送样测试要求，请具体联系
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显微镜
主要功能：主要用于材料、地质样品的表面形貌观察和微区成分分析
主要技术指标：分辨率：1.0nm@15kV，1.6nm@1 kV，4.0nm@0.1 kV； 放大倍数：SE模式×12～ 1,000kx，EsB检测器时×100～1,000kx； 电子枪：肖特基热场发射型，稳定度0.2%/h； 加速电压：20V～30kV； 样品室：330mm（直径）x270 mm（高）； 样品台：5轴电动优中心样品台，X = 130mm，Y = 130mm，Z = 50mm，T = -3 到 70°； 镜筒有无磁设计
主要学科领域：物理学,地球科学,生物学,材料科学
服务内容：物理学,地球科学,生物学,材料科学
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S4800场发射扫描电镜冷场
S4800场发射扫描电镜冷场(SEM2)
主要功能：观察材料表面的微细形貌、断口及内部组织，并对材料表面微区成分进行定性和定量分析。
主要技术指标：l、次电子分辨率： 1.0nm (15kV)； 2.0n（1kV)； 1.4nm (1kV减速模式) 2、背散射电子分辨率：3.0 nm (15 kV) 3、加速电压：0.5～30kV 4、电子枪：冷场发射电子源 5、放大倍率：30～800,000倍 6、X射线能谱仪的元素分
主要学科领域：材料科学
服务内容：分析测试
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